如何測量晶振信號中的低相位噪聲？

如何測量晶振信號中的低相位噪聲？  測量和監(jiān)控晶振中的相位噪聲水平非常重要，因為它會因晶體老化或其他外部因素（如振動、溫度和 g 力）而隨時間變化。 感興趣的朋友不要劃走，請跟隨晶光華小編一起去了解：

相位噪聲是在頻率范圍內(nèi)測量的，并被繪制成信號振幅，與頻率相對。因此很難直接觀察相位噪聲。對于噪聲較大的信號，可在頻譜分析上清楚的看到。在這種情況下，頻譜儀上原本的晶振噪聲高于被測量的晶振噪聲，這使得直接觀測相位噪聲變得非常困難，因此必須增大敏感性測試。

在相當干凈的晶振信號中測量相位噪聲的最常用方法是將兩個晶振相比較，大多數(shù)相位噪聲測量系統(tǒng)都使用這種方法。

超低相位噪聲參考晶振設(shè)計，為在與被測單元完全相同的頻率下工作，然后將該信號和被測晶振的信號反饋到相位檢測器，然后將它們的相對相位噪聲調(diào)整并鎖定在90度偏移處，同時載波頻率被混頻器移除，現(xiàn)在混合到基頻率的殘余噪聲調(diào)制仍然存在，然后將該信號放大以增加靈敏度。

現(xiàn)在可以使用帶寬非常低的分析儀更仔細地檢查這種殘留的放大殘余噪聲。這些讀數(shù)通常表示為邊帶噪聲功率的比率（在中心頻率到載波信號功率的給定偏移距離處以1Hz帶寬測量。）

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