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【晶振廠家經(jīng)驗(yàn)】導(dǎo)致晶振損壞因素有哪些?

來源: | 發(fā)布日期:2022-02-01

【晶振廠家經(jīng)驗(yàn)】導(dǎo)致晶振損壞因素有哪些?   在本文,晶光華小編將為您解析會(huì)導(dǎo)致晶振損壞的因素,以及焊接晶振時(shí)的注意事項(xiàng),一起去看看:

導(dǎo)致晶振損壞的因素有哪些?

●晶振生產(chǎn)過程種有摔落或受到外界過大的沖擊力,石英晶片很薄,防振及輕拿輕放是很有必要。

●焊接晶振時(shí),焊接溫度過高導(dǎo)致晶振不良。

●焊接過程中產(chǎn)生虛焊,也就是假焊接,使晶振不通電。

●晶振焊接之后,焊錫與線路相連,造成短路現(xiàn)象。

●在檢漏工序中,就是在酒精加壓的環(huán)境下,石英晶體容易產(chǎn)生碰殼現(xiàn)象,即振動(dòng)時(shí)晶片跟外殼容易相碰,從而晶體容易發(fā)生時(shí)振時(shí)不振或停振;

●在壓封時(shí),晶體內(nèi)部要求抽真空充氮?dú)?,如果發(fā)生壓封不良,即晶體的密封性不好時(shí),在酒精加壓的條件下,其表現(xiàn)為漏氣,稱之為雙漏,也會(huì)導(dǎo)致停振;

●由于晶片本身的厚度很薄,當(dāng)激勵(lì)功率過大時(shí),會(huì)使內(nèi)部石英晶片破損,導(dǎo)致停振;

●有功能負(fù)載會(huì)降低Q值(即品質(zhì)因素),從而使晶體的穩(wěn)定性下降,容易受周邊有源組件影響,處于不穩(wěn)定狀態(tài),出現(xiàn)時(shí)振時(shí)不振現(xiàn)象;

●由于晶體在剪腳和焊錫的時(shí)候容易產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力,而焊錫溫度過高和作用時(shí)間太長(zhǎng)都會(huì)影響到晶體,容易導(dǎo)致晶體處于臨界狀態(tài),以至出現(xiàn)時(shí)振時(shí)不振現(xiàn)象,甚至停振;

●在焊錫時(shí),當(dāng)錫絲透過線路板上小孔滲過,導(dǎo)致引腳跟外殼連接在一塊,或是晶體在制造過程中,基座上引腳的錫點(diǎn)和外殼相連接發(fā)生單漏,都會(huì)造成短路,從而引起停振;

●當(dāng)晶體頻率發(fā)生頻率漂移,且超出石英晶振偏差范圍過多時(shí),以至于捕捉不到晶體的中心頻率,從而導(dǎo)致芯片不起振。

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【本文標(biāo)簽】 導(dǎo)致晶振損壞因素有哪些 晶振焊接 晶體的密封性 晶振停振 晶振剪腳 頻率漂移

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