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【晶振廠家經(jīng)驗】如何設(shè)計一個晶振電路?

來源: | 發(fā)布日期:2022-01-22

【晶振廠家經(jīng)驗】如何設(shè)計一個晶振電路?  晶振存在于大大小小的電路板中,就連小小的U盤中也會有晶振的存在,那么如何進(jìn)行晶振電路設(shè)計?本文晶光華小編將為你詳細(xì)解析。

石英晶振

(1)在電路設(shè)計中,我們必須要讓晶振,外部電容器與IC之間的信號線盡可能保持最短。其根本在于當(dāng)非常低的電流通過IC晶振振蕩器的時候,線路太長的話,會導(dǎo)致它對EMC,ESD與串?dāng)_產(chǎn)生非常敏感的影響。而且線路太長會給振蕩器增加寄生電容。

(2)需要特別注意晶振和地的走線。

(3)晶振外殼要接地。

(4)晶振的位置盡可能要遠(yuǎn)離時鐘線路和頻繁切換的信號線。

晶振電路在電路板的設(shè)計

(1)總線信號都用電阻拉一下。之所以這樣做的原因有很多,但并一定每個都需要,在上下拉電阻拉一個單純的輸入信號,電流也就幾十微安以下。如果拉一個被驅(qū)動的信號,電流將會達(dá)到毫安級。如果對于數(shù)據(jù)和地址總線上的信號,都進(jìn)行上拉,幾瓦的功耗都將消耗在上面。

(2)CPU和FPGA不用的信號怎么處理

如果選擇懸空,受外界一點點干擾,就可能成為反復(fù)震蕩的輸入信號。MOS器件的功耗基本取決于門電路的翻轉(zhuǎn)次數(shù)。如果全部上拉,也會有微安級電流,所以最好設(shè)置成輸出。

(3)存儲芯片的片選信號接地

大部分存儲器在片選有效時候的功耗是片選無效時候的100倍以上,所以最好使用CS來控制芯片,而不要一直接地。并且在滿足要求的情況下,盡可能的縮短片選脈沖的寬度。

(4)關(guān)于信號過沖

大部分信號都是有過沖的,如果過沖不是很大,就不需要添加匹配電阻。如果和輸出阻抗匹配上同樣大小的電阻,將會導(dǎo)致電流大,提高了功耗,也會減小信號幅度,嚴(yán)重的時候?qū)?dǎo)致不能使用。所以對于TTL、LVDS、422等信號,只要做到過沖可以接受即可。

(5)電源芯片功耗問題

電源芯片等一些小芯片,手冊上寫的功耗很小,但是加上負(fù)載之后就不一樣了。在使用這些芯片的時候,需要注意所帶的負(fù)載情況。

晶體元件的負(fù)載電容是指在電路中跨接晶體兩端的總的外界有效電容。是指晶振要正常震蕩所需要的電容。一般外接電容,是為了使晶振兩端的等效電容等于或接近負(fù)載電容。要求高的場合還要考慮ic輸入端的對地電容。應(yīng)用時一般在給出負(fù)載電容值附近調(diào)整可以得到精確頻率。此電容的大小主要影響負(fù)載諧振頻率和等效負(fù)載諧振電阻。

晶振的負(fù)載電容CI=[(Cd*Cg)/(Cd+Cg)]+Cic+△C式中Cd、Cg為分別接在晶振的兩個腳上和對地的電容,Cic(集成電路內(nèi)部電容)+△C(PCB上電容),當(dāng)它的負(fù)載電容小于CI時,其振蕩頻率正向偏移;而當(dāng)它的負(fù)載電容大于CI時,其振蕩頻率負(fù)向偏移。

調(diào)整方式上:在輸出脈沖頻率產(chǎn)生偏移,且調(diào)整微調(diào)電容C1無效的情況下,可用頻率計測出其振蕩頻率,將其與標(biāo)稱頻率32768Hz相比較。若測得頻率大于32768Hz,說明負(fù)載電容CL偏小。這時可采用并聯(lián)一個附加電容CS,以產(chǎn)生所需的總負(fù)載電容CI,即CI=CL CS;若測得頻率小于32768Hz,說明負(fù)載電容CL偏大,可采用串聯(lián)一個加電容CS,以產(chǎn)生所需的總負(fù)載電容CI,即1/CI=1/CL 1/CS。通過對輔助電容CS逐步調(diào)整,使振蕩頻率最終達(dá)到或逼近32768Hz。

如果實際的負(fù)載電容配置不當(dāng),第一會引起線路參考頻率的誤差,另外如在發(fā)射接收電路上會使晶振的振蕩幅度下降(不在峰點),影響混頻信號的信號強(qiáng)度與信噪。當(dāng)波形出現(xiàn)削峰,畸變時,可增加負(fù)載電阻調(diào)整(幾十K到幾百K),要穩(wěn)定波形是并聯(lián)一個1M左右的反饋電阻。

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